Tecnologia a raggi X facile da usare

Un nuovo livello di semplicità

Ispeziona ciò che non si vede

ZEISS METROTOM 1

Con la tecnologia CT di ZEISS METROTOM 1, chiunque può eseguire in modo efficiente attività di misurazione e ispezione complesse con una sola scansione. Misura e ispeziona difetti nascosti e strutture interne che non è possibile rilevare con sistemi di misurazione ottici o a contatto. Altrettanto efficienti sono le dimensioni di ZEISS METROTOM 1. Con il suo ridotto ingombro, lo scanner CT si adatta facilmente al vostro laboratorio di metrologia e consente di effettuare misurazioni e ispezioni in loco e in una sola volta.

Un sistema CT, molti vantaggi

ZEISS METROTOM 1 è il dispositivo ideale per aggiornare la tua gamma di ispezioni di qualità utilizzando la tomografia computerizzata industriale. Il sistema CT presenta molti vantaggi:

Facile utilizzo

X-Ray easy-to-use

ZEISS METROTOM 1 è stato progettato pensando all'utente. L'installazione è semplice ed è necessaria solo una formazione minima per poter utilizzare lo strumento. Basta un clic per avviare il processo di scansione!

Misurazioni precise

Precise X-Ray Technology

Piccolo ma completo: con ZEISS Metrotom 1 è possibile misurare e valutare parti complete. Ciò consente di eseguire accurati confronti nominali/effettivi, controlli dimensionali e analisi dello spessore delle pareti con la certezza di poter fare affidamento sui dati.

Ingombro ridotto

Compact CT system

ZEISS Metrotom 1 è sorprendentemente compatto. Le sue dimensioni sono 1750 mm (L) x 1820 mm (A) x 870 mm (P). Ciò significa che il sistema CT si adatta a qualsiasi laboratorio di metrologia, permettendovi di effettuare misurazioni in loco e controlli di qualità senza servizi di misurazione esterni.

Ritorno rapido sull'investimento

Fast return on investment

Oltre ai bassi costi di acquisto, anche i costi di proprietà sono ridotti al minimo grazie al sistema a bassa manutenzione: il tubo di ZEISS METROTOM 1 non necessita di manutenzione quando è in funzione.

ZEISS METROTOM 1: affidabile e compatto

Tecnologia CT progressiva per ogni laboratorio di metrologia

ZEISS è un esperto nel campo della tecnologia CT e fornisce sistemi CT affidabili nell'ambito della famiglia METROTOM da oltre un decennio. Il sistema di tomografia computerizzata ZEISS METROTOM 1 mette a disposizione di tutti una tecnologia a raggi X affidabile e un controllo qualità non distruttivo.

ZEISS METROTOM 1
Flat panel detector

I raggi X che schermano il campione sono rilevati da un rivelatore a pannello piatto.

Rotary table

La tavola girevole è un componente essenziale durante il processo di scansione per consentire l'acquisizione di un set completo di dati 3D di un elemento.

X-ray tube

I raggi X sono generati dal tubo a raggi X e penetrano nel campione.

Misurazione di componenti interi. Garanzia di pezzi impeccabili.

Con ZEISS METROTOM 1 i difetti nascosti dei pezzi possono essere rilevati con facilità nel vostro laboratorio di misura. Che si tratti di parti di medie o piccole dimensioni, di plastica o di metallo leggero, con ZEISS METROTOM 1 è possibile ispezionare una varietà di pezzi come connettori, tappi di plastica, parti in alluminio e altro ancora.

ZEISS METROTOM 1 with GOM Volume Inspect

ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

Artificial intelligence in computed tomography

The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.

Prova come funziona il sistema

Dati tecnici

Piccolo e potente grazie a ZEISS

Ambiti di applicazione:
Ispezione non distruttiva, scansione simultanea di più pezzi

Caratteristiche dell'ispezione:
Misurazioni di strutture interne ed esterne e ispezioni di difetti interni, ad esempio fori da ritiro.

X-ray source

160 kV

X-ray detector (pixels):

2.5 k (2,500 x 2,500)

Measuring volume

165 x 140 mm

Metrology specification (MPE SD)

5 µm +L/100

Dimensions

1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D)

Weight

2100 kg

Software

GOM Volume Inspect (included)

Resolution

32,6 μm

High Resolution Mode

With the High Resolution (HR) mode you can decrease the voxel size of your ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.

  • Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
  • Improved image quality
  • Easy switch between Standard and High Resolution mode

Features

ZEISS METROTOM 1
Standard

ZEISS METROTOM 1
High Resolution

Voxel size

65.3 μm

32.6 μm

Measuring volume

165 x 140 mm

80 x 80 mm

Pixel size

78 μm x 78 μm

39 μm x 39 μm

View more details and receive a sharper image with the High Resolution mode.

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