ZEISS METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout

Un concentrato di risoluzione per l’analisi CT e la metrologia

ZEISS METROTOM 6 scout digitalizza parti complesse, comprese le geometrie interne, al livello di dettaglio più avanzato. Il risultato è un’immagine 3D completa per l’analisi GD&T o per il confronto target/attuale. Il sistema metrologico CT è una scelta eccellente per la digitalizzazione di piccoli pezzi in plastica.

  • Risoluzione estremamente alta
  • Alto livello di precisione
  • Posizionamento automatico degli oggetti
  • Software all-in-one

Misure ad alta risoluzione di piccole parti in plastica

ZEISS METROTOM 6 scout è la soluzione perfetta per l’analisi non distruttiva e la metrologia 3D dei componenti. Le prestazioni di misura avanzate e il flusso di lavoro continuo garantiscono la massima affidabilità e precisione nel rilevamento dei difetti.
Rivela ciò che è nascosto con altre tecnologie
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Risoluzione

Durante la digitalizzazione di un pezzo, ZEISS METROTOM 6 scout raggiunge un’eccezionale nitidezza dei dettagli: In primo luogo, perché utilizza un rilevatore a raggi X 3k ad alta risoluzione per acquisire i dati di misura e, in secondo luogo, perché ogni pezzo viene misurato nella migliore posizione di misura possibile e quindi sempre con la massima risoluzione possibile. Il risultato è visibile nell’immagine: A sinistra, i dati di misura generati con ZEISS METROTOM 6 scout e a destra, il solito standard.

Alta precisione garantita

Alta precisione garantita

Precisione

ZEISS METROTOM 6 scout utilizza l’intelligenza matematica per generare i suoi precisi dati di misura 3D. Durante l’intero processo di misurazione, combina algoritmi perfettamente interconnessi con la modellazione digitale della sala metrologica. Offre inoltre una stabilità meccanica ottimizzata per tutti i componenti rilevanti per la misura. In altre parole: Sulla base dei risultati di misura, è possibile valutare la qualità di un pezzo in modo davvero affidabile e altamente preciso e condurre ulteriori analisi.

Centra i pezzi automaticamente

Un sistema cinematico a 5 assi con tavola di centraggio integrata posiziona in modo ottimale il pezzo nel volume di misura. È sufficiente posizionarlo nella sala di misura della macchina: il resto lo fa il software.

Caratteristiche del software per l’acquisizione e la ricostruzione delle immagini

Esecuzione di scansioni TC efficienti con ZEISS INSPECT X-Ray
  • Riduzione degli artefatti multimateriale

    Riduzione degli artefatti multimateriale

    I dettagli dei tuoi pezzi sono più precisi nel passaggio dal metallo alla plastica: La correzione degli artefatti multimateriale riduce in modo significativo gli artefatti che si verificano durante la scansione di componenti con materiali e spessori diversi, in particolare in parti simili a connettori con metallo e plastica.

  • Estensione del campo visivo verticale

    Estensione del campo visivo verticale

    Il sistema di posizionamento ad alta precisione, che sfrutta la nostra esperienza nella misurazione a contatto, ha aumentato le dimensioni dei componenti che possono essere ricostruiti nel sistema fino a 400 mm di altezza. Ciò significa che i componenti di grandi dimensioni possono essere completamente catturati in un unico processo automatizzato, eliminando la necessità di un riposizionamento e di un allineamento che richiedono molto tempo da parte dell’operatore.

  • Scansione a semicerchio

    Scansione a semicerchio

    Il semicerchio è una modalità di scansione in cui un componente deve compiere solo poco più di mezza rotazione invece di una rotazione completa. Ciò consente di scansionare con una risoluzione più elevata regioni specifiche di componenti che altrimenti sarebbero geometricamente limitate da una rotazione completa.

  • Separazione

    Separazione

    La separazione automatica aumenta la produttività grazie alla scansione di più componenti contemporaneamente e alla loro valutazione automatica separata, riducendo significativamente i tempi di scansione e l’interazione dell’operatore.

ZEISS METROTOM

Dati tecnici

Caratteristica

Sorgente di raggi X

225 kV

Rilevatore di raggi X

Risoluzione: 3008 x 2512 pixel

Area di misura

d: 240 mm
h: 400 mm

Dimensione del voxel

2 µm - 80 µm

Dimensione

H. 2210 mm
L. 2200 mm
P. 1230 mm

Peso

4800 kg

Campo di applicazione

Analisi iniziale dei componenti, correzione dell’attrezzatura, analisi durante la produzione in corso

Caratteristiche dell’analisi

Strutture interne, spessore delle pareti, difetti del materiale, pori e cavità da restringimento

Compiti di misura

GD&T analisi, confronto nominale/effettivo, analisi dell’assemblaggio

Download

    • EN_ZEISS METROTOM 6 scout_Flyer_online

      612 KB


    • EN, ZEISS X-Ray Series Brochure_Online

      1 MB


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