Workshop di Microscopia Correlativa 3D - Registrazione

Cosa offre il workshop?

Il workshop offre una panoramica sull’esclusiva e completa soluzione di correlativa ZEISS, che va dalla microscopia ottica a quella confocale, super risoluzione, elettronica, ionica e a raggi X, garantendo un flusso di lavoro correlato, completo e diretto.

Data: 26 e 27 febbario 2019
Location: Uni Roma 3 - Dipartimento di Ingegneria, Aula Conferenze, Via Volterra 62

Martedì 26 febbraio 2019, ore 9.30 -17.00 Life Science Day (Posti esauriti)

Ora Tematica a cura di

09:30

Registrazione & Welcome

Team Carl Zeiss SpA - UNI Roma 3

10:00

La microscopia nell'era digitale

G. Lamedica (Carl Zeiss SpA)

10:30

Microscopia avanzata: dal confocale alla Super-Risoluzione

A. Cometta (Carl Zeiss SpA)

10:50

L'App Store in cloud per l'analisi di immagine e la gestione di big data: APEER

A. Cometta (Carl Zeiss SpA)

11.10

Apeer Registration & Coffee Break

 

11:30

Correlation between slide scanning and laser confocal microscopy Cryo

S. Prag (Carl Zeiss MicroImaging GmbH)

12:00

Workflows from confocal to electron microscopy

J. Lindenau (Carl Zeiss MicroImaging GmbH)

12:30

Investigating cells and organisms using correlative imaging by light FIB/SEM tomography

A. Di Giulio (UNI Roma3)

13:00

Lunch

 

14:00

Sessioni Pratiche

 

 

Correlazione fra microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Sigma 300 e microscopio ottico AxioZoom.V16.

 

 

Machine Learning: la nuova frontiera dell'Analisi d'Immagine con ZEN Intellesis (continuazione sessione pratica) 

 

17:00

Termine dei lavori

 

Mercoledì 27 febbraio 2019, ore 9.30 -17.00 Materials Science Day

Ora Tematica a cura di

09:30

Registrazione & Welcome

Team Carl Zeiss SpA - UNI Roma3

10:00

La microscopia ZEISS nell'era digitale

G. Lamedica (Carl Zeiss SpA)

10:30

Nuovi orizzonti nella microscopia a fascio ionico focalizzato FIBSEM e Multi-Beam) e correlazione con tecniche analitiche avanzate 3D EDS, 3D EBSD, SIMS

F. Biancardi (Carl Zeiss SpA)

11:00

L'App Store in cloud per l'analisi di immagine e la gestione di big data: APEER

F. Biancardi (Carl Zeiss SpA)

11:30

APEER Registration & Coffee Break

 

12:00

Using XRM to optimize FIB-SEM

H. Pavlicek (Carl Zeiss MicroImaging GmbH)

12:30

Preparing TEM lamellae with LM and FIB-SEM

H. Pavlicek (Carl Zeiss Microimaging GmbH)

13:00

Correlative Microscopy as a powerful tool to characterise structural compositional and functional properties

R. Moscatelli (UNI Roma 3)

13:30

Lunch

 

14:30

Sessioni pratiche

Tutti

 

Correlazione fra microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Sigma 300 e microscopio Ottico AxioZoom.V16.

 

 

Machine Learning: la nuova frontiera dell'analisi di immagine con ZEN Intellesis (continuazione sessione pratica)

 

17:00

Termine dei lavori

 

Siamo spiacenti, ma la disponibilità di posti è purtroppo esaurita