Workshop di Microscopia Correlativa 3D - Registrazione
Cosa offre il workshop?
Il workshop offre una panoramica sull’esclusiva e completa soluzione di microscopia correlativa ZEISS, che va dall'ottica all'elettronica, ionica e raggi X, garantendo un flusso di lavoro correlato, completo e diretto. Durante il corso ne saranno esposti i punti di forza e verranno messe a confronto le potenzialità delle varie tecniche di microscopia nell'ambito delle bioscienze e dei materiali.
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Mercoledì 20 febbraio 2019
09.30 |
Resgistrazione & Welcome |
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10.00 |
NOLIMITS: centro di servizio per la Microscopia Elettronica in Unimi - Città Studi |
N. Santo - A. Costa (Università degli Studi di Milano) |
10.30 |
La microscopia nell'era digitale: il campione al centro |
F. Biancardi (Carl Zeiss SpA) |
11.00 |
Introduzione alla microscopia elettronica a scansione: applicazioni in Scienze della Vita e dei Materiali |
F. Biancardi (Carl Zeiss SpA) |
11.30 |
Coffee Break |
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12.00 |
Advanced in 3D Volume Scanning Electron Microscopy: Array Tomography focused Ion Beam Nanotomography and Serial Block Face Imaging |
J. Lindenau (Carl Zeiss Microscopy GmbH) |
12.30 |
Sessione Q&A e round table. I partecipanti sono invitati a presentare brevemente qualsiasi problematica di analisi abbiano incontrato nelle proprie attività di ricerca relativamente a bioscienze o nanomateriali
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Tutti |
13.00 |
Lunch |
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14.00 |
MultiSEM: The world’s fastest Scanning Electron Microscope |
A. Casares (Carl Zeiss Microscopy GmbH) |
14.30 |
Piattaforme di Microscopia Correlativa e Imaging in Cloud Computing: ZEN Connect e APEER |
A. Cometta (Carl Zeiss SpA) |
15.00 |
Rendering e analisi avanzata di dataset tridimensionali su piattaforma Arivis |
M. Abbate (Arivis) |
15.30 |
Sessione Q&A |
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16.00 |
Termine dei lavori |
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I posti disponibili sono limitati, la registrazione è obbligatoria