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New: High Resolution Option
Tecnologia a raggi X facile da usare
Un nuovo livello di semplicità

Ispeziona ciò che non si vede
ZEISS METROTOM 1
Con la tecnologia CT di ZEISS METROTOM 1, chiunque può eseguire in modo efficiente attività di misurazione e ispezione complesse con una sola scansione. Misura e ispeziona difetti nascosti e strutture interne che non è possibile rilevare con sistemi di misurazione ottici o a contatto. Altrettanto efficienti sono le dimensioni di ZEISS METROTOM 1. Con il suo ridotto ingombro, lo scanner CT si adatta facilmente al vostro laboratorio di metrologia e consente di effettuare misurazioni e ispezioni in loco e in una sola volta.
Un sistema CT, molti vantaggi
ZEISS METROTOM 1 è il dispositivo ideale per aggiornare la tua gamma di ispezioni di qualità utilizzando la tomografia computerizzata industriale. Il sistema CT presenta molti vantaggi:
Facile utilizzo

ZEISS METROTOM 1 è stato progettato pensando all'utente. L'installazione è semplice ed è necessaria solo una formazione minima per poter utilizzare lo strumento. Basta un clic per avviare il processo di scansione!
Misurazioni precise

Piccolo ma completo: con ZEISS Metrotom 1 è possibile misurare e valutare parti complete. Ciò consente di eseguire accurati confronti nominali/effettivi, controlli dimensionali e analisi dello spessore delle pareti con la certezza di poter fare affidamento sui dati.
Ingombro ridotto

ZEISS Metrotom 1 è sorprendentemente compatto. Le sue dimensioni sono 1750 mm (L) x 1820 mm (A) x 870 mm (P). Ciò significa che il sistema CT si adatta a qualsiasi laboratorio di metrologia, permettendovi di effettuare misurazioni in loco e controlli di qualità senza servizi di misurazione esterni.
Ritorno rapido sull'investimento

Oltre ai bassi costi di acquisto, anche i costi di proprietà sono ridotti al minimo grazie al sistema a bassa manutenzione: il tubo di ZEISS METROTOM 1 non necessita di manutenzione quando è in funzione.
ZEISS METROTOM 1: affidabile e compatto
Tecnologia CT progressiva per ogni laboratorio di metrologia
ZEISS è un esperto nel campo della tecnologia CT e fornisce sistemi CT affidabili nell'ambito della famiglia METROTOM da oltre un decennio. Il sistema di tomografia computerizzata ZEISS METROTOM 1 mette a disposizione di tutti una tecnologia a raggi X affidabile e un controllo qualità non distruttivo.

Misurazione di componenti interi. Garanzia di pezzi impeccabili.
Con ZEISS METROTOM 1 i difetti nascosti dei pezzi possono essere rilevati con facilità nel vostro laboratorio di misura. Che si tratti di parti di medie o piccole dimensioni, di plastica o di metallo leggero, con ZEISS METROTOM 1 è possibile ispezionare una varietà di pezzi come connettori, tappi di plastica, parti in alluminio e altro ancora.






GOM Volume Inspect
Analisi completa dei dati tomografici in 3D
ZEISS METROTOM 1 è dotato del software operativo e di ispezione GOM Volume Inspect. Il software, adatto anche ai principianti, include tutte le fasi del processo CT, dall'impostazione e ricostruzione della scansione, alla valutazione dei dati e al reporting. Geometrie, fori da ritiro, strutture interne e gruppi possono essere valutati con precisione. Anche i difetti più piccoli diventano visibili grazie alle singole immagini in sezione e possono essere valutati automaticamente utilizzando una vasta gamma di criteri. Con un solo software, è possibile caricare i dati di volume di diversi componenti in un progetto, eseguire un'analisi delle tendenze, confrontare i dati 3D acquisiti con il modello CAD e altro ancora.

Prova come funziona il sistema
Dati tecnici
Piccolo e potente grazie a ZEISS
Ambiti di applicazione:
Ispezione non distruttiva, scansione simultanea di più pezzi
Caratteristiche dell'ispezione:
Misurazioni di strutture interne ed esterne e ispezioni di difetti interni, ad esempio fori da ritiro.
X-ray source |
160 kV |
X-ray detector (pixels): |
2.5 k (2,500 x 2,500) |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
Metrology specification (MPE SD) |
5 µm +L/100 |
Dimensions |
1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D) |
Weight |
2100 kg |
Software |
GOM Volume Inspect (included) |

High Resolution option
With the HR option you can increase the resolution of ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.
- Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
- Improved image quality
- Easy switch between Standard and High Resolution mode
- Option can be installed by the user easily and quickly
Features |
ZEISS METROTOM 1 |
ZEISS METROTOM 1 |
Resolution |
65.3 μm |
32.6 μm |
Measuring volume |
165 x 140 mm |
80 x 80 mm |
Number of pixels |
2,560 x 2,560 |
5,120 x 5,120 |
Pixel size |
78 μm x 78 μm |
39 μm x 39 μm |
Accessories included |
Fixture plates (2x) |
Plate holder |


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