ZEISS Cleanliness Analysis System

Massima qualità nella produzione

I sistemi ZEISS per la Cleanliness Analysis (analisi del grado di pulizia del manufatto) forniscono i dati sulla contaminazione da particolato per migliorare e garantire la qualità del vostro processo produttivo.

Caratterizzazione immediata delle particelle contaminanti

Soluzioni complete per l'analisi dettagliata delle particelle, dalla forma alla loro composizione, in scala micro-nanometrica. 
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Conforme agli standard industriali più recenti

Soddisfare i requisiti degli standard industriali VDA 19.1, VDA 19.2 e ISO 16232, implementare flussi di lavoro automatizzati e rendere riproducibile l'analisi delle particelle.
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Tecnologia all'avanguardia, accessibile a tutti

Dotatevi dei più recenti sistemi di Analisi delle Particelle, incluso hardware, software e assistenza specializzata. Soluzioni di full-service leasing possono soddisfare le esigenze anche di chi ha un budget limitato.
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Rilevamento e classificazione dettagliata delle particelle

per soddisfare rigorosi requisiti di qualità

Le soluzioni ZEISS per l'analisi dettagliata delle particelle ed i test sul grado di pulizia, includono:

  • Sistemi di Microscopia Ottica per stimare il potenziale rischio da contaminazione, classificare le particelle in base alla quantità, distribuzione dimensionale e morfologia, distinguendo particelle e fibre metalliche da quelle non metalliche fino a 2 µm.
  • Microscopia Elettronica e Sistemi EDS per individuare le fonti di contaminazione, misurare le caratteristiche morfologiche delle particelle e eseguire l'analisi degli elementi in modalità completamente automatizzata, per classificare le particelle in base alla loro composizione chimica.
  • Analisi Correlativa delle particelle per stabilire processi di analisi avanzata per rilevare le particelle critiche e identificare le particelle killer mediante l'analisi correlativa automatizzata (CAPA - Correlative Automated Particle Analysis), che combina la velocità di analisi propria della microscopia ottica con il dettaglio analitico della microscopia elettronica, in un unico flusso di lavoro.

 

Pensato appositamente per l'industria manifatturiera

Le soluzioni ZEISS per l'analisi del grado di pulizia del manufatto industriale, sono state sviluppate in stretta collaborazione con le aziende del settore manifatturiero, le quali sentivano l'esigenza specifica di identificare e classificare il particolato con sistemi potenti ma, al contempo, facili da usare. Oggi, gli attuali standard di pulizia industriale sono un elemento di attenta analisi, in particolare per quanto riguarda la semplicità d'uso anche per quegli operatori che non sono così esperti di microscopia.

Le soluzioni ZEISS per l'analis del particolato sono conformi ai seguenti standard:

  • ISO 16232
  • VDA 19.1
  • VDA 19.2

Gear Up per una maggiore pulizia mediante Full Service Leasing

Il leasing è un ottimo sistema per ottenere ciò di cui avete bisogno senza un impegnativo investimento inziale. Selezionate la soluzione di analisi del particolato più vicina alle vostre esigenze ed avrete a disposizione il microscopio, gli accessori inclusi, il supporto e l'assistenza ZEISS su tutto il territorio nazionale - la logistica organizzativa sarà a carico di ZEISS.


I vantaggi del Full Service Leasing con ZEISS sono i seguenti:

  • Spese operative prevedibili
  • Nessun costo iniziale e nessun impegno di budget
  • Canone fisso mensile per un contratto di servizio che comprende la manutenzione preventiva e correttiva e i pezzi di ricambio. 
  • Nessun rischio finanziario: ZEISS è responsabile dell'ammortamento del sistema e del valore di rivendita

Sistemi ZEISS per l'analisi delle particelle

Sistemi di Microscopia Ottica

SteREO discovery

SteREO Discovery.V8

Per particelle fino a 20 µm

Sistema di base per identificare le fibre e differenziare le particelle metalliche da quelle non metalliche, ideale per applicazioni standard di test di pulizia.

Axio Zoom.V16

Per particelle fino a 5 µm

Eseguite analisi accurate e ripetibili con questo microscopio dotato di zoom digitale completamente automatizzato, che consente di eseguire una scansione ad ampio campo e analisi estese.

Axio Imager 2

Per particelle fino a 2 µm

Microscopio completamente automatizzato per l'analisi di particelle ad alta risoluzione, che consente una misurazione rapida e precisa della lunghezza, larghezza e altezza delle particelle.

Particle Analyzer

Software per microscopi ottici

Automatizzare l'analisi delle particelle - per quantità, distribuzione dimensionale, morfologia e tipo - con il software Particle Analyzer.
Risponde agli standard interni e ISO 16232, VDA 19.

Sistemi SEM/EDS e soluzioni per Microscopia Correlativa

EVO

SEM convenzionale

Utilizzate questo sistema SEM/EDS per applicazioni di routine di analisi delle particelle. EVO è disponibile con pressione variabile (VP) per consentire l'imaging e l'analisi di campioni non conduttivi.

Sigma 300

SEM ad emissione di campo (FEG)

Ideale per applicazioni in scala nanometrica. Sigma 300 esegue l'analisi di particelle ad alta risoluzione e, grazie alla sua sorgente ad alte prestazioni, consente l'analisi di particelle anche inferiori al micron.

SmartPI

Software per sistemi SEM/EDS

Il software SmartPI automatizza il rilevamento, l'analisi e la classificazione delle particelle, incorporando tutti gli aspetti del controllo SEM, l'elaborazione delle immagini e l'analisi degli elementi all'interno di una singola applicazione.

CAPA

Più dettagli sull'origine delle particelle

Approfondite la vostra conoscenza con Correlative Automated Particle Analysis (CAPA), la soluzione ZEISS che combina microscopia ottica ed elettronica in un unico flusso di analisi, per l'interrogazione e la classificazione avanzata delle particelle.

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